示波器性能与被测信号的关系
在进行测量时，了解示波器 的能力是很重要的，如标在示波器面板上的带宽和采样率以及示波器的存储单元的长度、上升时间等参数，它们将决定你的示波器能测量什么样的波形。
为了重建一个波形，至少需要一定数量的采样点，而且在任何情况下采样时钟的频率都必须比信号频率高五至十倍。
对于上升时间的测量来说，情况也是这样。如果使用一台上升时间比被测信号的上升时间快10倍的示波器来进行测量，那么示波器木身的上升时间对测量的影响将几乎可以忽略。然而如果示波器的被测信号的上升时间相同，那么引起的测量误差可高达41%。
下面，通过例子来说明示波器性能与被测信号之间的关系。
(1)上升沿与采样率的关系
假设被测信号为一个25MHz的方波，上升沿为5ns，要精确测量此信号，则示波器在信弓的上升沿最少应能采样10个点，那么采样点间隔最少为500ps，示波器的采样率最少为2Gs/s。若要完整 显示信 号的一个周期， 即在50ns时间轴上（时基调整到5nS/div)分布的500个点都是采样获得而非插值，则采样间隔最少为 100ps，这就要求示波器采样率为10GS/s。这样卨的采样率只能通过等效采样获得，而且要求被测波形是稳定的周期信号。
(2)带宽与被测信号的关系
同样，要测量上述方波，对示波器带宽也有严格的要求。
从埋论上说，方波是由其基波和基波的奇次谐波分量组成,示波器的带宽所能通过的奇次谐波分量越多，重现的方波越准确。因此，在测量中选择示波器的带宽越大越好，至少应大于方波某频分量的10倍。
在实际测量中，被测方波往往还包含偶次谐波分量，并叠加有频率史高的过冲及毛刺等，若要对 这些特性进行测量，则要求示波器的带宽至少能通过这 些信号，而且采样率足够 高，带宽具体大到什么程度要根据对被测信 号的要求而定，因为带宽越大，示波器 成本越 高。
(3)示波器的上升时间与被测信兮的关系
在模拟示波器中，上升时间是示波器的一项极其重要的指标。而在有 些数字示波器中，上升时间甚至都不作为指标明确给出。当示波器的上升时间比信号的上升时间快5倍时，被测 信号的异常幅度衰减对达到2%， 下表给出了示波器上升时间与被测信号上升时间的关系。从表中可以看出，示波器的上升时间越快，测得的信号越准确。
另外，信号上升时间的测量还与示波器的时基选择有关， 虽然信号的上升时间是一个 定值，而用数字示波器测量出来的结果却因为时基选择的不同而相差甚远。得到最大采样率的 时基越小测得的上升时间最小；时基越大测得的信 号上升时间越大。
而 时基与采样率的关系为：
时基(t/div) = 50(每格点数)/采样率
时某越小，要求采样率越大。在实际测量中，采样率还受到存储深度的影响。
(4)采样率和采样存储深度
实际上采样率 是一个与 时基及存储深度有关的变化量，并不总等于厂家所给的最卨采样率。例如某示波器，存储深度为lks/ch，当时基足够快(小）时，采样率为1GS/S,到时基增大至100ns/div，—帧波形（ 10div)的采样时间为 100ns/div×10 div=1μs ，所采点数恰为 1μs×1 GS/s=1ks，已经把存储器存满。再增加时基，若按1GS/S速度采样就存不下了，只能降低实际采样率。例如 时基增加10倍，采样率就下降10倍。
存储和显示密度（SDD)的概念，定义为在某时基下，示波器t轴方向每格能用于存储和显示的点数。当SDD不大于显示分辨率时（一般为每格50个点），SDD即为显示密度；当SDD大于 显示分辨率时，表示实际存储的点数高于直接显示的需要。可供把波形拉宽观测细节。引人SDD的概念还能直观地判断荧屏上 真实的采样点数是否够用。
存储和M示密度（S/div)=采样率(S/s) X时基(t/div)
在实际测量中，非常讲究在一次捕获数据后，既能看到信号的全景，又能观察其中非常细小的部分。例如，既要 看清几十位数字信号的脉冲列是否正常，又想仔细观察其中某个脉冲的前沿是否够陡，该边沿部分是否叠加了毛刺或寄生振荡。
(5)探头对被测信号的影响
探头往往是测量时被忽略的一个因素，而它对测量结果的影响几乎同示波器一样重要。每台示波器都配有自己专用的探头，带宽和上升时间都与示波器相匹配。虽然多数探头或者型号相同，或者性能参数相同，但还是不提倡混用。
探头的带宽和上升时间的选择与示波器相同，在实际测量中，实测得到的trise 不仅与信号的上升沿有关，还与示波器的上升时间及使用探头的上升时间有关：
式中：trise —实际测量得到的上升时间；
tosc—示波器的上升时间；
taig—信号的实际上升时间；
tprobe—探头的上升时间。
因此，在测量中，性能不同的探头所测得的波形会有差别，在补偿一致的情况下，带宽大，上升时间快的探头测量值更准确。
另外，探头的输入阻抗也影响测量的准确度。
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