集成电路（IC ）的电磁兼容测试 :静电放电测试

时间：2018-08-02

随着电子技术的飞速发展，产品也向复杂化和小型方随着电子技术的飞速发展，产品也向复杂化和小型方随着电子技术的飞速发展，产品也向复杂化和小型方的结构越来紧凑，布线密度高这大加剧了电磁辐射、干扰以及的结构越来紧凑，布线密度高这大加剧了电磁辐射、干扰以及的结构越来紧凑，布线密度高这大加剧了电磁辐射、干扰以及的结构越来紧凑，布线密度高这大加剧了电磁辐射、干扰以及发热问题对产品性能的影响，使得电磁兼容越来突出。一方面发热问题对产品性能的影响，使得电磁兼容越来突出。一方面发热问题对产品性能的影响，使得电磁兼容越来突出。一方面品在国家标准检测时不容易一次关，另方面产本身受到电磁兼的影响而使品在国家标准检测时不容易一次关，另方面产本身受到电磁兼的影响而使得其功能不稳定，甚至失效等困难。

在电磁兼容问题面前，如果缺少相应的调试和测设备，那么工程师只能凭经验在进行电磁兼容的设计和调试，经验在进行电磁兼容的设计和调试，经验在进行电磁兼容的设计和调试，经验在进行电磁兼容的设计和调试，经验在进行电磁兼容的设计和调试，等到标准化测试中心后才知道等到标准化测试中心后才知道等到标准化测试中心后才知道等到标准化测试中心后才知道等到标准化测试中心后才知道等到标准化测试中心后才知道不合格。有时候，整改后再去委托测试，反而发现整改委托测试，反而发现整改没有效果或者说结果更差。这样的工作方法，不但严重的影响了效率拖延设计进程而且对产品质量也工作方法，不但严重的影响了效率拖延设计进程而且对产品质量也工作方法，不但严重的影响了效率拖延设计进程而且对产品质量也工作方法，不但严重的影响了效率拖延设计进程而且对产品质量也的确无法很好的保证，工程师也在实际设计作中积累经验。

现代电子产品的设计概念是“及早排除可能隐患，第一次就把工作做好”。现代电子产品的设计概念是“及早排除可能隐患，第一次就把工作做好”。现代电子产品的设计概念是“及早排除可能隐患，第一次就把工作做好”。现代电子产品的设计概念是“及早排除可能隐患，第一次就把工作做好”。产品的电磁兼容性工作已经逐步从事后检测处理发展到预先分析评估、验磁兼容性工作已经逐步从事后检测处理发展到预先分析评估、验预先设计，即在预先设计，即在产品研发阶段就有针对性的开展预测分析工作，把过去用于制产品研发阶段就有针对性的开展预测分析工作，把过去用于制后期试验测量和处理以及返工补救的费用，安排到加强返工补救的费用，安排到加强事前设计和预测检验中来。

为了实现这一目标，要求设计人员在研发过程中不光重视产品的功能为了实现这一目标，要求设计人员在研发过程中不光重视产品的功能而且还要对影响产品质量和可靠性的电磁兼容发热等问题进行系统设计，认要对影响产品质量和可靠性的电磁兼容发热等问题进行系统设计，认真的对每一个元件、每一块电路以及个子系统进行检测和调试，对发现的问件、每一块电路以及个子系统进行检测和调试，对发现的问件、每一块电路以及个子系统进行检测和调试，对发现的问题进行故障诊断、定位和题进行故障诊断、定位和分析，并评估各种改进措施的效果做到及时发现问题分析，并评估各种改进措施的效果做到及时发现问题分析，并评估各种改进措施的效果做到及时发现问题及时解决。在产品研发过程中采取适当的工具、方法及设备，将电磁兼容计在产品研发过程中采取适当的工具、方法及设备，将电磁兼容计在产品研发过程中采取适当的工具、方法及设备，将电磁兼容计入到产品的整个设计过程中，会取得事半功倍的效果。

近年来，集成电路的频率越来高，晶体管数目多集成电路的频率越来高，晶体管数目多集成电路的频率越来高，晶体管数目多的电源压越来低，加工芯片的特征尺寸进一步减小越来多功能甚至低，加工芯片的特征尺寸进一步减小越来多功能甚至低，加工芯片的特征尺寸进一步减小越来多功能甚至低，加工芯片的特征尺寸进一步减小越来多功能甚至是一个完整的系统都能够被集成到单个芯片之中，这些发展都使得级电磁兼够被集成到单个芯片之中，这些发展都使得级电磁兼容显得尤为突出。现在，集容显得尤为突出。现在，集容显得尤为突出。现在，集成电路生产商也要考虑自己品磁兼容方面的问题。

北京海洋仪器P331-2set集成电路静电放电抗扰度测试系统，是依据IEC61000-4-2/HMM标准设计，可直接在集成电路引脚或通过耦合器USB、LVDS、以太网等高速端口处进行有线ESD耦合，测试集成电路对静放的抗干扰能

该系统主要由以下部分组成：

1. P331 -2, ESD 发生器；

2. BPS 203, 猝发电站；

3. BPS 203 -Client, 控制软件；

9. SM 02 -01, 分流器。