作为射频测试电缆组件，其弯曲特怕多寸于保证测试精度有着重要意义，因为电缆的弯曲会导致驻波比、损耗和相位的变化。

        每种同轴电缆都有最小弯曲半径的要求，最小弯曲半径又分为静态和动态两种。比如， MIL-C-17 标准中外径为 5 . 4mm 的 RG223 / U 电缆，其允许最小静态弯曲半径为 30mm ，最小动态弯曲半径则为 54 mm 。在实际测试应用中，建议电缆的最小弯曲半径不要小于其直径的10倍。

        在测试电缆组件中，接头与电缆连接部位的工艺在很大程度上影响到整条电缆组件的 VSWR 和插入损耗的稳定性。从这个角度看，接头和电缆根部的防弯曲工艺是衡量和选择一条射频测试电缆组件的重要依据。常见的热缩套管并不能很好的起到防止弯曲的作用，较好的方法是采用硬性护套（见图1.10（a））或者不锈钢恺装护套外加热缩套管（见图 1 .10（ b ) ）。采用硬性护套可以很好地保护连接器和电缆的连接部位，防止电缆的过度弯曲。试验发现，采用该措施的电缆组件，经过长期使用后，即使连接器磨损，电缆根部依然完好。

        在一些微波测试场合，要求测试电缆组件在弯曲时具有很小的相位变化量，即所谓的”稳相电缆”。一般来说，微孔介质电缆的相位稳定性会明显优于实心介质电缆，而多股内导体电缆的相位稳定性优于单股内导体。在某些场合，弯曲时的相位稳定性是衡量微波电缆性能的重要指标，常见的外径约为 5 mm 的微波电缆在弯曲直径为 50mm 时，其相位变化在 20度一 50度之间。